Subcategories and products for this section can be found below in Czech. If you need further information in English, don't hesitate to contact our product specialists.
Surface and thin layer measurement
- Optical profilometers
- Fizeau interferometers
- Spectroscopic elipsometers
- Nanoindenter
- Mikrolitografy (Photo lithography systems)
- Particle size analysers
- Spin coaters for thin spin application
Subcategories and products for this section can be found below in Czech. If you need further information in English, don't hesitate to contact our product specialists.
Vero
Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření
See product site in Czech
VASE Elipsometr
VASE je přesný a univerzální elipsometr od amerického výrobce J. A. Woollam pro výzkum všech typů materiálu.
See product site in Czech
Jednopaprskový laserový interferometr
Jednopaprskový, vysoce přesný interferometr s rovinným zrcadlem, kulovým nebo dutým reflektorem ze série SP NG zajišťujíe nejlepší linearitu a možnost měření skrze malá okna
See product site in Czech
Diferenciální laserový interferometr SP-DI
Série SP-DI představuje systém pro diferenční měření délky a úhlu s nejvyšší přesností.
See product site in Czech
Dvoupaprskový interferometr
Dva paralelní měřící paprsky jsou využívány pro získání dvou na sobě nezávislých údajů o délce.
See product site in Czech
Trojpaprskový laserový interferometr
Interferometr složený ze tří laserů v jednom je schopný simultánně určit 3 na sobě nezávislé hodnoty a tak umožňuje změřit pozici a dva úhly diferenčních hodnot ve stejný moment.
See product site in Czech
Kalibrační interferometr SP 15000 C
Laserový trojpaprskový interferometr ideální pro kalibraci os u strojů a pro koordinaci měřících přístrojů.
See product site in Czech
Laserový vibrometr
Přístroje pro měření vibrací od německého výrobce SIOS Maßtechnik využívají jako základní funkční prvek technologii laserové interferometrie, která je doplněna dalším optickým vybavením.
See product site in Czech
Měřidlo s dotykovou sondou
Kontaktní sonda s precizním, interferometrickým odměřováním polohy pro určování tloušťky materiálu.
See product site in Czech
Jupiter XR
Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření
See product site in Czech
Cypher Family
Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření
See product site in Czech
MFP-3D family
Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření
See product site in Czech
Compass 2
Compass 2 pro komplexní, plně automatizovanou metrologii povrchu čoček a mikro-čoček.
See product site in Czech
Nanopolohovací platforma NPP-1
Planární laserová interferometrická měřicí a polohovací platforma pro AFM
See product site in Czech
AFSEM pro korelativní mikroskopii
AFSEM mikroskop pro korelativní měření AFM / SEM
See product site in Czech
Mapovací elipsometr Theta-SE
Rychlý spektroskopický elipsometr pro přesné mapování a charakterizaci vrstev
See product site in Czech
Spektroskopický elipsometr RC2
Řada modulárních vysoce přesných spektroskopických elipsometrů
See product site in Czech
NanoTest Xtreme
Platforma pro testování mechanických vlastností materiálů ve vakuu
See product site in Czech
Verifire
Laserový Fizeau interferometr pro běžné měření tvaru optických prvků a reflexních povrchů
See product site in Czech
M2000
Modulární spektroskopické elipsometry s unikátní kombinací rychlosti a přesnosti měření
See product site in Czech
MicroWriter ML3
Optický litograf s přímým vysokorychlostním zápisem a vysokým rozlišením
See product site in Czech
Spektroskopický elipsometr RC2
Řada modulárních vysoce přesných spektroskopických elipsometrů
See product site in Czech
Verifire
Laserový Fizeau interferometr pro běžné měření tvaru optických prvků a reflexních povrchů
See product site in Czech
In situ elipsometr iSE
Nejvyšší řada modulárních spektroskopických elipsometrů se dvěma rotujícími kompenzátory
See product site in Czech
Spektroskopický elipsometr alpha-SE
Špičkový spektroskopický elipsometr dedikovaný pro in-situ měření
See product site in Czech
Verifire Asphere+
Compass 2 pro komplexní, plně automatizovanou metrologii povrchu čoček a mikro-čoček.
See product site in Czech
