K používání a měření webu využíváme cookies. Používáním tohoto webu souhlasíte se způsobem, jakým s cookies nakládáme. Další informace

Měření vrstev a povrchů

Měření vrstev a povrchů

  • Optické 3D profiloměry
  • Fizeau interferometry
  • Elipsometry
  • Nanoindentory
  • Optické litografy
  • Analyzátory velikosti částic
  • Spin coatery pro přípravu tenkých vrstev
Analyzátor velikosti částic

Analyzátor velikosti částic

Měření velikosti částic od 3 nm do 100um diferenciální sedimentací v odstředivém poli

Zygo objektivy

Zygo objektivy

Speciální objektivy Zygo pro optické profiloměry

ZeGage

ZeGage

Robustní 3D optický profiloměr s opakovatelností až 0,01 nm

NexView

NexView

Špičkový 3D optický profiloměr s opakovatelností až 0,005 nm

MicroWriter ML3

MicroWriter ML3

Optický litograf s přímým vysokorychlostním zápisem a vysokým rozlišením

Verifire

Verifire

Laserový Fizeau interferometr pro běžné měření tvaru optických prvků a reflexních povrchů

Dynafiz

Dynafiz

Laserový interferometr pro dynamická měření tvaru optických prvků s extrémní odolností proti vibracím

NanoTest Xtreme

NanoTest Xtreme

Platforma pro testování mechanických vlastností materiálů ve vakuu

Nanotest Vantage

Nanotest Vantage

Univerzální platforma pro testování mechanických vlastností materiálů

NewView 8000

NewView 8000

3D optický profiloměr s opakovatelností až 0,01 nm