K používání a měření webu využíváme cookies. Používáním tohoto webu souhlasíte se způsobem, jakým s cookies nakládáme. Další informace

Meranie vrstiev a povrchov

Výrobce

Typické využití

Meranie vrstiev a povrchov

  • Optické profilomery
  • Fizeau interferometre
  • Elipsometre
  • Nanoindentory
  • Mikrolitografy
  • Analyzátory veľkosti častíc
  • Spin coatery na prípravu tenkých vrstiev
Nanotest Vantage

Nanotest Vantage

Univerzální platforma pro testování mechanických vlastností materiálů

See product site in Czech
RC2 - kopie

RC2 - kopie

Nejvyšší řada modulárních spektroskopických elipsometrů se dvěma rotujícími kompenzátory

See product site in Czech
NewView 8000 - kopie

NewView 8000 - kopie

3D optický profiloměr s opakovatelností až 0,01 nm

See product site in Czech
Zygo objektivy

Zygo objektivy

Speciální objektivy Zygo pro optické profiloměry

See product site in Czech
ZeGage

ZeGage

Robustní 3D optický profiloměr s opakovatelností až 0,01 nm

See product site in Czech
MicroWriter ML3

MicroWriter ML3

Optický litograf s přímým vysokorychlostním zápisem a vysokým rozlišením

See product site in Czech
M2000

M2000

Řada modulárních vysoce přesných spektroskopických elipsometrů

See product site in Czech
Verifire

Verifire

Laserový Fizeau interferometr pro běžné měření tvaru optických prvků a reflexních povrchů

See product site in Czech
Dynafiz

Dynafiz

Laserový interferometr pro dynamická měření tvaru optických prvků s extrémní odolností proti vibracím

See product site in Czech
NanoTest Xtreme

NanoTest Xtreme

Platforma pro testování mechanických vlastností materiálů ve vakuu

See product site in Czech
NexView - kopie

NexView - kopie

Špičkový 3D optický profiloměr s opakovatelností až 0,005 nm

See product site in Czech