- Optixs
- Nová generace elipsometru alpha 2.0 pro rutinní měření
Nová generace elipsometru alpha 2.0 pro rutinní měření
21. 10. 2023
Produktové novinky
Spektroskopický elipsometr alpha 2.0 je nástupcem úspěšného a cenově dostupného modelu alpha-SE od J.A. Woollam.
Řešení pro rutinní měření tloušťky a indexu lomu tenkých vrstev. Kombinace kompaktních rozměrů a jednoduchému designu umožňuje snadné ovládání, a to při zachování maximálního výkonu spektroskopické elipsometrie.
Novinka v podobě patentované technologie duální rotace zaručuje vysokou přesnost elipsometrických měření včetně Muellerovy Matice.
Klíčové vlastnosti:
- Jednoduchá obsluha
- Rychlé měření celého spektra díky CCD detektoru
- Příznivá cena
- Nová generace s patentovanou technologií duální rotace
Navštivte produktovou stránku pro více informací o novince: ZDE.
Související produkty
Webináře a akce
- 12. 03. 2024 Webinář: Posouvání hranic v nanomechanickém testování
- 15. 02. 2024 Webinář: Tajemství kamer pro časově rozlišené snímání
- 18. 01. 2024 Webinář: Objevte sílu MWIR hyperspektrálního zobrazování
- 16. 11. 2023 Webinář: Objevte sílu SWIR hyperspektrálního zobrazování
Slovník
OptiXův slovník naučnýNewsletter
Přihlaste se k odběru OptiXs newsletteru