Měření povrchů a vrstev
Měření povrchů a vrstev
V naší nabídce naleznete komplexní sadu spičkových přístrojů pro analýzu povrchů a tenkých vrstev. Nabízíme jak systémy na bázi bezkontaktního, tak i kontaktního měření; systémy pro měření i vytváření struktury povrchu v nano- i mikro- měřítku, tloušťky a složení vrstev, měření tvarových odchylek v mikro- i makroskopické škále, komplexní analýzu optických i mechanických vlastností.
- Optické Profiloměry a Drsnoměry - bezkontaktní měření topografie & drsnosti, 3D metrologie povrchu
- AFM a AFSEM - sub-nm 3D mikroskopie s možností korelativní analýzy (SEM, EDX) a nanomanipulace
- Laserové Fizeau Interferometry - metrologie povrchu, měření tvaru optiky
- Laserové odměřovací interferometry a vibrometry - precizní měření posuvů & náklonů, vibrací, kalibrace polohovacích systémů
- Spektroskopické Elipsometry - charakterizace tenkých vrstev a multivrstev
- Nanoindentory - mechanické vlastnosti povrchu, tribologické testy
- Optické litografy - příprava mikrostruktur přímým (bezmaskovým) optickým zápisem
- Nanopolohovací platformy - ultra-stabilní velkoplošné polohování pro libovolné senzory vč. AFM
- Spin coatery - vybavení pro přípravu tenkých povlaků

Nanotest Vantage
Univerzální platforma pro testování mechanických vlastností materiálů

Jednopaprskový laserový interferometr
Jednopaprskový, vysoce přesný interferometr pro odměřování polohy.

Diferenční laserový interferometr SP-DI
Systém pro diferenční měření délky a úhlu s nejvyšší stabilitou.

Dvoupaprskový interferometr
Dva paralelní měřící paprsky jsou využívány pro získání údajů o vzdálenosti, rozdílu poloh a úhlu.

Trojpaprskový laserový interferometr
Trojsvazkový interferometr pro přesné měření až 5 stupňů volnosti.

Kalibrační interferometr SP 15000 C
Kalibrační interferometr s až 6 stupni volnosti.

Laserový vibrometr
Extrémně přesný laserový interferometr pro měření vibračních spekter se snadnou justáží a ovládáním.

Měřidlo s dotykovou sondou
Kontaktní sonda s interferometrickým odměřováním pro určování tloušťky materiálu.

Jupiter XR
Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření

Cypher Family
Cypher - rodina ultravýkonných AFM mikroskopů pro měření bez kompromisů.

MFP-3D family
MFP-3D rodina výkonných AFM mikroskopů (nejen) pro bioaplikace a materiálový výzkum.

Compass 2
Compass 2 pro komplexní, plně automatizovanou metrologii povrchu čoček a mikro-čoček.

Nanopolohovací platforma NPP-1
Planární polohovací platforma pro velkoplošné skenování nejen s AFM

Verifire MST+
Verifire MST+ je interferometr pro simultánní testování více povrchů, např. planparalelních tenkých destiček

VASE Elipsometr
Spektroskopický elipsometr se širokým spektrálním rozsahem a nastavitelným úhlem dopadu.

AFSEM pro korelativní mikroskopii
AFSEM mikroskop pro korelativní měření AFM / SEM

Mapovací elipsometr Theta-SE
Rychlý spektroskopický elipsometr pro přesné mapování a charakterizaci vrstev

NanoTest Xtreme
Platforma pro testování mechanických vlastností materiálů ve vakuu

Spektroskopický elipsometr M-2000
Modulární spektroskopické elipsometry s unikátní kombinací rychlosti a přesnosti měření

MicroWriter ML3
Laserový litograf s přímým vysokorychlostním zápisem a vysokým rozlišením

Spektroskopický elipsometr RC2
Nejvyšší řada modulárních spektroskopických elipsometrů se dvěma rotujícími kompenzátory

Verifire VTS
Vertikální pracovní stanice pro laserový Fizeau interferometr slouží pro automatizované měření sférické, asférické i free-form optiky

Optický drsnoměr ZeGage Pro
Robustní 3D optický drsnoměr s opakovatelností až 0,01 nm

Zygo objektivy
Speciální objektivy Zygo pro WLI optické profiloměry

Optický profiloměr NewView 9000
Bezkontaktní, modulární 3D profiloměr pro přesnou metrologii povrchu

In-situ elipsometr iSE
Špičkový spektroskopický elipsometr dedikovaný pro in-situ měření

Elipsometr alpha 2.0
Základní spektroskopický elipsometr s nastavitelnými úhly dopadu.

Verifire Asphere+
Verifire Asphere+ interferometry pro flexibilní a přesnou metrologii asférických povrchů

Optický profilometr NexView NX2
Nejlepší bezkontaktní optický 3D profiloměr a drsnoměr na trhu s opakovatelností RMS až 0,005 nm

Mapovací elipsometr RC2® XF s mikrofokusem
Špičkový spektroskopický elipsometr s mikrofokusací. Měření na bázi dual RCE technologie a CCD detekce.
