AFSEM pro korelativní měření

KATEGORIE:

AFSEM™ od GETec umožňuje rozšíření možností vašeho skenovacího elektronového mikroskopu (SEM) o unikátní vlastnosti mikroskopie atomárních sil (AFM) s možností korelativní analýzy dat.

AFSEM™ je kompatibilní s většinou dostupných SEM a FIB/SEM systémů na trhu a je může tak snadno rozšířit schopnosti i Vašeho systému o mikroskopii atomárních sil. Díky unikátnímu designu nedochází k nežádoucímu rušení ostatních měřicích metod systému (např. FIB, FEBID, EDX), naopak systém s tímto rozšířením dokáže mimo jiné získat informaci o 3D struktuře vzorku.

Vlastnosti:

  • Rozměry AFSEM™ skeneru: 41 x 110 x 77 mm³ (VxŠxH)
  • Hmotnost AFSEM™ skeneru: 500 g
  • Skenovací rozsah: 35 x 35 µm² pro x,y (uzavřená smyčka); 5 µm pro osu z
  • Vakuová kompatibilita: do 10-6 mbar
  • Různé měřicí módy

Máte zájem o AFSEM pro korelativní měření
Potřebujete radu?

Kontaktujte nás

Máte zájem o AFSEM pro korelativní měření? Potřebujete radu?

Pomůže Vám specialista sekce Richard Schuster, případně využijte naše další kontakty.

KONTAKTNÍ FORMULÁŘ

Informace o cookies na této stránce

Rádi bychom používali cookies. Umožní nám získat přehled o návštěvnosti webu, lépe cílit reklamu a vylepšovat naše služby.

Více informací

Nastavení cookies

Vaše soukromí je důležité. Používání souborů cookie si můžete vybrat, jak je popsáno níže. Vaše preference mohou být kdykoli změněny.