- Optixs
- Produkty
- Měření povrchů
- AFM mikroskopy
- Cypher Family

Cypher - Ultravýkonné AFM
Cypher od Asylum Research je rodina mikroskopů atomárních sil nabízející nekompromisní kombinaci vysokého rozlišení při vysoké rychlosti měření s kompletní škálou měřicích módů.
Kromě typických AFM módů je v nabídce i kombinované režimy pro měření termálních, elektrických, magnetických a mechanických vlastností, dále například nanomanipilace a nanolitografie pro přesnou tvorbu nanostruktur a mnoho dalších možností.
Aplikace
Typické aplikační oblasti:
- Polovodiče
- Mikroelektronika
- Fotovoltaika a úložiště energie
- Tribologie & korozivní procesy
- Polymery
- 2D materiály
Hlavní přednosti
- Stabilita & rozlilšení
- Rychlost & přesnost
- Spolehlivá metrologie
- Flexibilita & variabilita
- Snadná obsluha a automatizace
- Velký rozsah skenování
Máte zájem o Cypher - Ultravýkonné AFM
Potřebujete radu?
Parametry
Rodina AFM mikroskopů Cypher sestává ze:
- startovacího modelu Cypher L - cenově výhodný, plně upgradovatelný; trvale překonává ostatní AFM ve své cenové kategorii
- základního modelu Cypher S - velmi vysoké rozlišení s rychlým skenováním a celou řadou režimů
- environmentálního AFM Cypher ES - veškerý výkon a funkce modelu Cypher S a navíc široká škála výjimečného příslušenství pro kontrolu prostředí
- modelu dedikovaného pro výzkum polymerů: Cypher ES Polymer Edition - Cypher ES předkonfigurovaný se vším pro studium polymerů
- nejrychlejšího modelu se schopností zobrazování ve video-módu: Cypher VRS-1250 - první plně vybavený AFM s videozáznamem, neuvěřitelná rychlost spolu s funkcemi přístroje Cypher ES
PŘÍSLUŠENSTVÍ
Standardní měřicí režimy:
- Contact mode
- DART PFM
- Dual AC
- Dual AC Resonance Tracking (DART)
- Electrostatic Force Microscopy (EFM)
- Force curves
- Force Mapping Mode (force volume)
- Force modulation
- Frequency modulation
- Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)
- Lateral Force Mode (LFM)
- Loss tangent imaging
- Magnetic Force Microscopy (MFM)
- Nanolithography
- Nanomanipulation
- Phase imaging
- Piezoresponse Force Microscopy (PFM)
- Switching spectroscopy PFM
- Tapping mode (AC mode)
- Tapping mode with digital Q control
- Vector PFM
Volitelné měřicí módy:
- AM-FM Viscoelastic Mapping Mode
- Contact Resonance Viscoelastic Mapping Mode
- Conductive AFM (CAFM) with ORCA™ and Eclipse™ Mode
- Current mapping with Fast Force Mapping
- Electrochemical Strain Microscopy (ESM)
- Fast Force Mapping Mode
- High voltage PFM
- Nanoscale Time Dependent Dielectric Breakdown (nanoTDDB)
- Scanning Microwave Impedance Microscopy (sMIM)
- Scanning Tunneling Microscopy (STM)
Související články
Související produkty
Máte zájem o Cypher - Ultravýkonné AFM? Potřebujete radu?
Pomůže Vám specialista sekce Richard Schuster, případně využijte naše další kontakty.