
Jupiter XR - AFM pro velké vzorky
Jupiter XR AFM od Asylum Research je první a jediný mikroskop atomárních sil pro velké vzorky, který nabízí nekompromisní kombinaci vysoké rychlosti měření při rozšířeném rozsahu skenování v rámci jediného skeneru. Jupiter XR Poskytuje přístup ke kompletnímu povrchu až 200 mm vzorků ve vysokém rozlišení s rychlým procesem od vložení vzorku po získání přesných výsledků. Rychlejší data, snazší uživatelské rozhraní, univerzalita - to odlišuje Jupiter XR od konkurence a nabízí excelentní parametry pro akademický i průmyslový vývoj a výzkum.
Aplikace
Typické aplikační oblasti:
- Polovodiče
- Mikroelektronika
- Fotovoltaika a úložiště energie
- Tribologie & korozivní procesy
- Polymery
- 2D materiály
Hlavní přednosti
- Rychlost & přesnost
- Spolehlivá metrologie
- Snadná obsluha a automatizace
- Velký rozsah skenování
Máte zájem o Jupiter XR - AFM pro velké vzorky
Potřebujete radu?
Parametry
Dostupné měřicí režimy:
- Contact mode
- Dual AC
- Dual AC Resonance Tracking (DART)
- DART Piezo Force Microscopy (DART PFM)
- Electrostatic Force Microscopy (EFM)
- Force curves
- Force Mapping Mode (force volume)
- Force modulation
- Frequency modulation
- Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)
- Lateral Force Mode (LFM)
- Loss tangent imaging
- Magnetic Force Microscopy (MFM)
- Nanolithography
- Nanomanipulation
- Phase imaging
- Piezoresponse Force Microscopy (PFM)
- Switching spectroscopy PFM
- Tapping mode (AC mode)
- Tapping mode with digital Q control
- Vector PFM
Další dostupné módy díky technologii blueDrive
- AM-FM Viscoelastic Mapping Mode
- Contact Resonance Viscoelastic Mapping Mode
Dokumenty
Související články
Související produkty
Máte zájem o Jupiter XR - AFM pro velké vzorky? Potřebujete radu?
Pomůže Vám specialista sekce Richard Schuster, případně využijte naše další kontakty.