K používání a měření webu využíváme cookies. Používáním tohoto webu souhlasíte se způsobem, jakým s cookies nakládáme. Další informace

Meranie vrstiev a povrchov

Výrobce

Typické využití

Meranie vrstiev a povrchov

  • Optické profilomery
  • Fizeau interferometre
  • Elipsometre
  • Nanoindentory
  • Mikrolitografy
  • Analyzátory veľkosti častíc
  • Spin coatery na prípravu tenkých vrstiev
Nanotest Vantage

Nanotest Vantage

Univerzální platforma pro testování mechanických vlastností materiálů

See product site in Czech
Mapovací spektroskopický elipsometr Theta-SE

Mapovací elipsometr Theta-SE

Rychlý spektroskopický elipsometr pro přesné mapování a charakterizaci vrstev

See product site in Czech
AFSEM

AFSEM pro korelativní měření

AFSEM mikroskop pro korelativní měření AFM / SEM

See product site in Czech
Jednopaprskový laserový interferometr

Jednopaprskový laserový interferometr

Jednopaprskový, vysoce přesný interferometr s rovinným zrcadlem, kulovým nebo dutým reflektorem ze série SP NG zajišťujíe nejlepší linearitu a možnost měření skrze malá okna

See product site in Czech
Diferenční laserový interferometr SP 5000 DI

Diferenční laserový interferometr SP-DI

Série SP-DI představuje systém pro diferenční měření délky a úhlu s nejvyšší přesností.

See product site in Czech
Dvoupaprskový interferometr

Dvoupaprskový interferometr

Dva paralelní měřící paprsky jsou využívány pro získání dvou na sobě nezávislých údajů o délce.

See product site in Czech
Trojpaprskový interferometr

Trojpaprskový laserový interferometr

Interferometr složený ze tří laserů v jednom je schopný simultánně určit 3 na sobě nezávislé hodnoty a tak umožňuje změřit pozici a dva úhly diferenčních hodnot ve stejný moment.

See product site in Czech
Kalibrační interferometr pro velké vzdálenosti

Kalibrační interferometr 5DOF

Laserový trojpaprskový interferometr ideální pro kalibraci os u strojů a pro koordinaci měřících přístrojů.

See product site in Czech
Laserový vibrometr

Laserový vibrometr

Přístroje pro měření vibrací od německého výrobce SIOS Maßtechnik využívají jako základní funkční prvek technologii laserové interferometrie, která je doplněna dalším optickým vybavením.

See product site in Czech
Měřidlo s dotykovou sondou

Měřidlo s dotykovou sondou

Kontaktní sonda s precizním, interferometrickým odměřováním polohy pro určování tloušťky materiálu.

See product site in Czech
Jupiter XR AFM pro velké vzorky

Jupiter XR

Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření

See product site in Czech
NexView NX2

NexView NX2

Špičkový 3D optický profiloměr s opakovatelností až 0,005 nm

See product site in Czech
In situ elipsometr iSE

In situ elipsometr iSE

Nejvyšší řada modulárních spektroskopických elipsometrů se dvěma rotujícími kompenzátory

See product site in Czech
NanoTest Xtreme

NanoTest Xtreme

Platforma pro testování mechanických vlastností materiálů ve vakuu

See product site in Czech
Dynafiz

Dynafiz

Laserový interferometr pro dynamická měření tvaru optických prvků s extrémní odolností proti vibracím

See product site in Czech
Verifire

Verifire

Laserový Fizeau interferometr pro běžné měření tvaru optických prvků a reflexních povrchů

See product site in Czech
Spektroskopický elipsometr M-2000

M2000

Modulární spektroskopické elipsometry s unikátní kombinací rychlosti a přesnosti měření

See product site in Czech
MicroWriter ML3

MicroWriter ML3

Optický litograf s přímým vysokorychlostním zápisem a vysokým rozlišením

See product site in Czech
Spektroskopický elipsometr RC2

Spektroskopický elipsometr RC2

Řada modulárních vysoce přesných spektroskopických elipsometrů

See product site in Czech
Verifire

Verifire

Laserový Fizeau interferometr pro běžné měření tvaru optických prvků a reflexních povrchů

See product site in Czech
ZeGage

ZeGage

Robustní 3D optický profiloměr s opakovatelností až 0,01 nm

See product site in Czech
Zygo objektivy

Zygo objektivy

Speciální objektivy Zygo pro optické profiloměry

See product site in Czech
Optický profiloměr NewView 9000

Optický profiloměr NewView 9000

3D optický profiloměr s opakovatelností až 0,01 nm

See product site in Czech
Jupiter XR AFM pro velké vzorky

Cypher Family

Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření

See product site in Czech