Výrobcovia
- Pevnolátkové, plynové, vláknové lasery
- Femtosekundové a excimerové lasery
- Laserové řezání, kalení, mikroobrábění
- Světelné zdroje, monochromátory
- Magnetometry, kryostaty
- Systémy pro nanotechnologie
- Optika a optomechanika
- Optická vlákna a příslušenství
- Modulární systémy pro mikroskopii
- 3D optické profiloměry
- Laserové Fizeau interferometry
- Referenční optické prvky pro měření optiky
- Superkontinuální bílé lasery
- Jednofrekvenční vláknové lasery
- Fotonická krystalická vlákna
- Modulární vláknové spektrometry
- Systémy pro Ramanovu spektroskopii
- Světelné zdroje a příslušenství
- Systémy pro měření proudění tekutin
- Systémy pro drátkovou anemometrii
- Aerodynamické a hydrodynamické aplikace
- Modulární fluorescenční spektrometry
- Systémy pro měření přechodné absorpce
- Spektrometry pro časově rozlišená měření
- Mikropolohovací systémy s krokovými motory
- Piezo nanopolohovací systémy a aktuátory
- Magnetické přímé pohony
- Fotonásobiče a fotonky, fotodiody
- Rozmítací (streak) kamery
- Spektrometry pro měření kvantového výtěžku
- Software pro stitching a 3D vizualizace
- Software pro analýzu obrazových dat
- Software pro dekonvoluci
- Kontinuální HeNe a ArIon lasery
- Diodové a DPSS lasery
- Mikroskopie, holografie, polygrafie
- Pump-probe spektrometry
- Fluorescenční spektrometry
- Generátory druhé a třetí harmonické frekvence
- Vlnové analyzátory na bázi Schack-Hartmannova senzoru
- Metrologický software
- Deformovatelná zrcadla
- Laserové interferometry
- Laserové Vibrometry
- Stabilizované HeNe lasery
- Precizní odměřování
- Teplotní kontroléry, monitory a senzory
- Měření magnetického pole
- Kryogenní testovací stanice, VSM magnetometry a měření Hallova jevu
- optické litografy
- magnetometry
- spintronika, mikroelektronika, materiálové vědy
- analyzátory velikosti částic
- měření velikosti částic pigmentů, proteinů a TiO2
- analýza nanočástic
- spektroskopické elipsometry
- elipsometrie, měření vlastností tenkých vrstev
- nanoindentory
- únavové testy, měření ve vysokých teplotách
- testy poškrábání a opotřebení materiálu
- Sondy pro měření klíčových fyzikálních parametrů objemového plazmatu.
- Sondy pro měření procesu na povrchu substrátu.
- Sondy pro detekci RF frekvence, měření pracovního cyklu v reálném čase i RF pulsní monitorování.
- Měření parametrů optických prvků a optických sestav
- Systémy pro justáž optických sestav
- Měření kvality obrazu (MTF)
- SWIR kamery, Kamery pro viditelné spektrum
- Astronomie, Přírodní a fyzikální vědy, Bezpečnost a dohled