OptiSurf® PRO AR
| VÝROBCE: |
|
Trioptics | KATEGORIE: |
OptiSurf® PRO AR od TRIOPTICS je měřící přístroj určený pro charakterizaci geometrických vlastností jednotlivých vlnovodů, vrstvených vlnovodů a jiných plano-optických prvků.
Vrstvené vlnovody (Stacked waveguides) se typicky skládají ze 2 až 3 prvků, které jsou vůči sobě nakloněné v určitém úhlu. Chyba v náklonu může způsobit nežádoucí chyby přenosu barev. OptiSurf® PRO AR dokáže tento náklon velmi přesně měřit. Zejména náklon jednotlivých prvků/ vrstev vlnovodu vůči sobě navzájem nebo vůči mechanické referenci. Další důležitou aplikací je měření celkové odchylky tloušťky (TTV Total Thickness variation) na ploše vlnovodu, jelikož příliš velká odchylka tloušťky může zásadně snížit kontrast (MTF Modulation Transfer Function) generovaného obrazu.
Ať už je vaše pole působnosti výroba, výzkum, nebo kontrola kvality svazků vlnovodů nebo optických prvků, OptiSurf® PRO AR umožňuje měření tloušťky jednotlivých středů a vzduchových mezer mezi součástmi ve svazku vlnovodů se sub-mikronovou přesností. Software zároveň analyzuje i náklon, tvar povrchu a prohnutí.
Klíčové vlastnosti:
Jedinečnost
- OptiSurf® PRO AR umožňuje přesné a spolehlivé testování geometrických vlastností. Jedná se o jediné měřící zařízení dostupné na trhu, které dokáže přesně změřit náklon jednotlivých prvků vrstvených vlnovodů.
Přesnost
- OptiSurf® PRO AR poskytuje přesná data z měření, např. celkovou odchylku tloušťky (TTV), rovinnost a náklon jednotlivých vlnovodů nebo plano-optických prvků, stejně tak vyrovnání (např. náklon a vzdálenost vzduchové mezery) svazku vlnovodů. To je prováděno s nejvyšší přesností v rámci nedestruktivního procesu měření.
Zkušenost
- TRIOPTICS má bohaté zkušenosti v oblasti bezkontaktního měření středové tloušťky jednotlivých čoček a rovinné optiky a také pro v oblasti měření vzdušných vzdáleností v optických systémech. To vše v rámci produktového portfolia Optisurf®.
Máte zájem o OptiSurf® PRO AR
Potřebujete radu?
Aplikace
- Nedestruktivní charakterizace geometrických prvků jednotlivých AR vlnovodů nebo plano-optických prvků: měření gravitačního průhybu, 2D profil tloušťky, celkové odchylky tloušťky, 1D a 2D prohnutí a deformace waferů, apod.
- Nedestruktivní charakterizace geometrických prvků jednotlivých AR vlnovodů nebo svazku AR vlnovodů, které se skládají ze dvou nebo více vlnovodů se vzduchovými mezerami: 2D profil tloušťky, celkové odchylky tloušťky, 1D a 2D prohnutí a deformace waferům, např. pro jednotlivé vlnovody a stejně tak pro 2D náklon a vzdálenost (tloušťka vzduchové mezery) mezi vlnovody.
Máte zájem o OptiSurf® PRO AR? Potřebujete radu?
Pomůže Vám specialista sekce Petr Březina, případně využijte naše další kontakty.