- Optixs
- Produkty
- Meranie vrstiev a povrchov
- AFM mikroskopy
AFM mikroskopy
AFM mikroskopy
Mikroskopie atomárních sil (AFM) slouží ke 3D zobrazování povrchu ve vysokém rozlišení. Metoda má širokou škálu uplatnění, jelikož lze použít pro vodivé i nevodivé, krystalické i amorfní, anorganické i organické vzorky. Díky novým přístupům lze kromě samotné topografie povrchu zkoumat též mechanické vlastnosti (nanoindentace, nanomanipulace, nanolitografie, mapování laterálních sil, ...), elektromagnetické vlastnosti (mapování proudů a vodivosti, STM, mikrovlnná impedanční mikroskopie, ...) a mnoho dalších metod.
Relativně novou záležitostí ve světě AFM mikroskopie je možnost korelativního měření integrací AFM modulu dovnitř například skenovacího elektronového mikroskopu (SEM). Zmíněný AFM / AFSEM modul lze však kromě integrace do stávajícího systému používat také samostatně, jako kompaktní AFM pro obtížně přístupné povrchy (například ostří holítka nebo naopak povrch velkoplošných vzorků).
Pro bioaplikace máme v nabídce také AFM vhodné pro měření pro měkkých vzorků i v kapalném prostředí. Bio-AFM je samozřejmě vybaveno optickým mikroskopem pro snazší orientaci na vzorku.
Cypher Family
Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření
See product site in CzechMFP-3D family
Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření
See product site in CzechVero
Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření
See product site in CzechAFSEM pro korelativní mikroskopii
AFSEM mikroskop pro korelativní měření AFM / SEM
See product site in CzechJupiter XR
Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření
See product site in CzechNanopolohovací platforma NPP-1
Planární laserová interferometrická měřicí a polohovací platforma pro AFM
See product site in CzechFusionScope AFM-in-SEM
FusionScope - platforma pro korelativní měření AFM / SEM
See product site in Czech