Jupiter XR AFM von Asylum Research ist das erste und einzige Rasterkraftmikroskop für große Proben, das eine kompromisslose Kombination aus hoher Messgeschwindigkeit und erweitertem Scanbereich innerhalb eines einzigen Scanners bietet. Das Jupiter XR ermöglicht den Zugriff auf die gesamte Oberfläche von Proben mit einer Größe von bis zu 200 mm in hoher Auflösung und bietet einen schnellen Arbeitsablauf vom Einlegen der Probe bis zum Erhalt präziser Ergebnisse. Schnellere Datenerfassung, eine benutzerfreundlichere Oberfläche und Vielseitigkeit – das unterscheidet das Jupiter XR von der Konkurrenz und bietet hervorragende Eigenschaften für die akademische und industrielle Entwicklung und Forschung.
Anwendungen
Typische Anwendungsbereiche:
- Halbleiter
- Mikroelektronik
- Photovoltaik und Energiespeicherung
- Tribologie & Korrosionsprozesse
- Polymere
- 2D-Materialien
Hauptmerkmale
- Geschwindigkeit & Genauigkeit
- Zuverlässige Messtechnik
- Einfache Bedienung und Automatisierung
- Großer Scanbereich
