Wir laden Sie zu einem weiteren Webinar von SIOS Messtechnikein , in dem Sie mehr über die hochpräzise Messtechnik auf Basis der Laserinterferometrie erfahren . Das Webinar findet am 30. Septemberzu zwei Terminen statt : um 8:30 Uhr und um 15:30 Uhr.
Die technologischen Innovationen der letzten Jahre folgen in der Regel einem einheitlichen Muster: Die Produkte werden komplexer und leistungsfähiger, die Anforderungen an die Verarbeitungsqualität steigen, während die Systeme gleichzeitig immer kompakter werden. Die Nachfrage richtet sich auf leistungsstarke, hochwertige und kompakte Geräte.
Mit dem wachsenden Interesse an Mikro- und Nanotechnologien in der Industrie steigen auch die Anforderungen an Messgeräte, die bei der Fertigung, Prüfung und Positionierung zum Einsatz kommen. Die Nanometrologie hat somit in den letzten Jahren ihren Weg in eine Vielzahl von Bereichengefunden – von der Halbleiterindustrie und Nanoelektronik über Mikrooptik, Gentechnik und Molekularbiologie bis hin zur Materialforschung.
Im Rahmen des Webinars führenSie die Experten Dr. Denis Dontsov und Enrico Langlotz in 45 Minuten durch folgende Themenbereiche:
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Hochstabile Laserinterferometer mit hoher Auflösung
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Grundlagen der Nanopositionierung
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Anwendungen von Geräten zur Positionierung und Messung im Nanomaßstab
Gleichzeitig erhalten Sie eine umfassende Anleitung zur korrekten Nutzung der SIOS-Systeme in Ihren Anwendungen. SIOS wird außerdem sein Multisensorsystem NMM für die komplexe 3D-Messtechnik im Nanomaßstab vorstellen.
Im Anschluss an die Präsentation wird es auch Raum für eine Diskussiongeben , in der unsere Spezialisten gerne alle Ihre Fragen beantworten.
Weitere Informationen zur Veranstaltung einschließlich der Anmeldeformulare finden Sie HIER oder Sie können sich direkt über die untenstehenden Links anmelden:
Wir freuen uns auf Sie!
