Nová generace elipsometru alpha 2.0 pro rutinní měření

Spektroskopický elipsometr alpha 2.0 je nástupcem úspěšného a cenově dostupného modelu alpha-SE od J.A. Woollam.

Řešení pro rutinní měření tloušťky a indexu lomu tenkých vrstev. Kombinace kompaktních rozměrů a jednoduchému designu umožňuje snadné ovládání, a to při zachování maximálního výkonu spektroskopické elipsometrie.

Novinka v podobě patentované technologie duální rotace zaručuje vysokou přesnost elipsometrických měření včetně Muellerovy Matice. 

Klíčové vlastnosti:

• Jednoduchá obsluha
• Rychlé měření celého spektra díky CCD detektoru
• Příznivá cena
• Nová generace s patentovanou technologií duální rotace

Navštivte produktovou stránku pro více informací o novince: ZDE.