Das spektroskopische Ellipsometer alpha 2.0 ist der Nachfolger des erfolgreichen und preisgünstigen Modells alpha-SE von J.A. Woollam.
Eine Lösung für Routinemessungen der Dicke und des Brechungsindexes dünner Schichten. Die Kombination aus kompakten Abmessungen und einfachem Design ermöglicht eine einfache Bedienung bei gleichzeitiger Beibehaltung der maximalen Leistungsfähigkeit der spektroskopischen Ellipsometrie.
Die neuartige, patentierte Dual-Rotations-Technologie garantiert eine hohe Genauigkeit der ellipsometrischen Messungen, einschließlich der Mueller-Matrix.
Hauptmerkmale:
- Einfache Bedienung
- Schnelle Messung des gesamten Spektrums dank CCD-Detektor
- Günstiger Preis
- Neue Generation mit patentierter Dual-Rotations-Technologie
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