Optiskop – Eine vielseitige Plattform für optische Polarimetrie-Messungen

Flexible Plattform für optische polarimetrische Messungen, insbesondere für:

• die Untersuchung von Wellenleitermoden,
• Untersuchung von Oberflächenplasmonen durch Variation des Polarisationszustands und des Einfallswinkels,
• polarimetrische Transmissions- und Reflexionsmessungen

Der Schwerpunkt lag auf der Modularität des Aufbaus, der hohen Genauigkeit bei der Einstellung des Einfallswinkels (zwei unabhängige Goniometer) und der Möglichkeit einer zukünftigen Erweiterung auf spektroskopische Messungen (Breitbandoptik).

Ein weiterer Schwerpunkt lag auf der vollständigen Kontrolle der Polarisation und der Automatisierung der Messungen.

Die Anlage wird sowohl für Forschungszwecke als auch zur Demonstration optischer Phänomene im praktischen Unterricht dienen.

Stabiler HeNe-Laser als Belichtungsquelle, achromatische Polarisationsoptik in motorisierten Rotatoren von PI für polarimetrische und ellipsometrische Messungen mit der Möglichkeit einer zukünftigen Erweiterung um spektroskopische Messungen, präzise Goniometer mit hoher Tragkraft von PI, ein sechsachsiger manueller Tisch zur Probenhandhabung, eine 4-Quad-Fotodiode zur einfachen Ausrichtung, ein automatischer Verschluss und eine schnelle Datenauslesung vom Sensor.

Das resultierende System ist um zusätzliche Funktionen erweiterbar, wie beispielsweise eine Kamera zur Probenansicht, die Möglichkeit der Fokussierung auf die Probe, die Erweiterung um spektroskopische Messungen oder motorisierte Verschiebungen zur Abtastung der Probe.

Geräteparameter

• Wellenlänge: 632,8 nm
• Winkelauflösung: < 0,001°
• Einfallswinkelbereich: 30° – 90° (im asymmetrischen Modus kann jeder der Arme von 0° bis 90° eingestellt werden)
• Extinktionsverhältnis von Polarisator und Analysator: ≥ 100 000 : 1