Optiskop - Variabilní platforma pro optická polarimetrická měření

Variabilní platforma pro optická polarimetrická měření, především pro:

• sondování vlnovodných módů,
• sondování povrchových plazmonů pomocí variováním stavu polarizace a úhlu dopadu,
• transmisní i reflektanční polarimetrická měření

Hlavní důraz byl kladen na modularitu sestavy, vysokou přesnost v nastavení úhlu dopadu (dva nezávislé goniometry) a možnost budoucího upgradu na spektroskopická měření (širokopásmová optika).

Důraz byl také kladen na plnou kontrolu nad polarizací a automatizaci měření.

Sestava bude sloužit k výzkumu i k demonstraci optických jevů během praktické výuky.

Stabilní HeNe laser jako zdroj osvitu, achromatická polarizační optika v motorizovaných rotátorech od PI pro polarimetrická a elipsometrická měření s možností budoucího rozšíření o spektroskopická měření, precizní goniometry s vysokou nosností od PI, šestiosý manuální stolek pro manipulaci se vzorky, 4-Quad fotodioda pro snadný alignment, automatický shutter a rychlé vyčítání dat ze senzoru.

Výsledná sestava je rozšiřitelná o dodatečné funkcionality, jako například o kameru pro náhled vzorku, možnost fokusaci na vzorek, rozšíření o spektroskopická měření či motorizované posuvy pro mapování vzorku.

Parametry zařízení

• Vlnová délka: 632,8 nm
• Úhlové rozlišení: < 0,001°
• Rozsah úhlu dopadu: 30 ° - 90 ° (v asymetrickém režimu lze každé z ramen nastavit od 0° do 90°)
• Extinkční poměr polarizátoru a analyzátoru: ≥ 100 000 : 1