Sammelbezeichnung für Verfahren in der Mikroskopie, deren Auflösung zweier Punkt-Signale die durch die Eigenschaften des Lichts und das optische System festgelegte Grenze überschreitet. Konkret handelt es sich dabei um eine laterale (x,y)-Auflösung von weniger als ~ 200 nm und eine axiale (z)-Auflösung von weniger als ~ 600 nm.