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Anwendungsbereiche:

Cypher – Hochleistungs-AFM

Cypher von Asylum Research ist eine Familie von Rasterkraftmikroskopen, die eine kompromisslose Kombination aus hoher Auflösung bei hoher Messgeschwindigkeit mit einer umfassenden Palette an Messmodi bietet.

Neben den typischen AFM-Modi stehen auch kombinierte Modi zur Messung thermischer, elektrischer, magnetischer und mechanischer Eigenschaften sowie beispielsweise Nanomanipulation und Nanolithografie und viele weitere Möglichkeiten zur Verfügung.

Anwendungen

Typische Anwendungsbereiche

  • Halbleiter
  • Mikroelektronik
  • Photovoltaik und Energiespeicherung
  • Tribologie & Korrosionsprozesse
  • Polymere
  • 2D-Materialien

Schlüsselmerkmale

  • Stabilität & Auflösung
  • Geschwindigkeit & Genauigkeit
  • Flexibilität – breites Spektrum an Modi bereits in der Grundkonfiguration
  • Einfache Bedienung und Automatisierung
Richard Schuster
Fachberater

Ing. Richard Schuster

+420 601 123 593

schuster@optixs.cz

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Parameter

Die Cypher-AFM-Mikroskop-Familie umfasst:

  • des Einstiegsmodells Cypher L – preisgünstig, vollständig aufrüstbar; übertrifft andere AFM in seiner Preisklasse stets
  • dem Basismodell Cypher S - sehr hohe Auflösung mit schneller Abtastung und einer Vielzahl von Betriebsmodi
  • des Umwelt-AFM Cypher ES - die gesamte Leistung und alle Funktionen des Cypher S sowie zusätzlich eine breite Palette an außergewöhnlichem Zubehör für die Umgebungskontrolle mit hermetisch abgeschlossener Probenkammer
  • eines speziell für die Polymerforschung entwickelten Modells: Cypher ES Polymer Edition - Cypher ES, vorkonfiguriert mit allem, was für die Polymerforschung benötigt wird
  • das schnellste Modell mit der Fähigkeit zur Bildgebung im Videomodus: Cypher VRS-1250 - das erste voll ausgestattete AFM mit Videoaufzeichnung, unglaubliche Geschwindigkeit sowie alle Funktionen und Modi des Cypher ES

Modellübersicht der Cypher-Serie

Zubehör

Standard-Messmodi: Wählbare Messmodi:
Kontaktmodus (DC) AM-FM-Viskoelastik-Mapping-Modus
DART-PFM Kontakt-Resonanz-Viskoelastik-Mapping-Modus
Dual-AC, Dual-AC-Resonanz-Tracking (DART) Konduktives AFM (cAFM) mit ORCA™- und Eclipse™-Modus
Elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM) Stromabtastung mit Fast Force Mapping
Kraftkurven Elektrochemische Dehnungsmikroskopie (ESM)
Kraft-Mapping-Modus (Kraftvolumen) Fast-Force-Mapping-Modus
Kraftmodulation Hochspannungs-PFM
Frequenzmodulation Nanoskaliger zeitabhängiger dielektrischer Durchschlag (nanoTDDB)
Kelvin-Sonden-Kraftmikroskopie (KPFM) Raster-Mikrowellen-Impedanzmikroskopie (sMIM)
Lateral-Force-Modus (LFM) Rastertunnelmikroskopie (STM)
Loss-Tangent-Bildgebung
Magnetkraftmikroskopie (MFM) _____________________________________
Nanolithografie blueDrive – photothermische Anregung
Nanomanipulation Bildgebung mit Videogeschwindigkeit
Phasenbildgebung Elektrochemische Zelle (EC-AFM)
Piezoresponse-Kraftmikroskopie (PFM) Temperatur- und Feuchtigkeitsregelung
Schalt-Spektroskopie-PFM Perfusionszelle
Tapping-Modus (AC-Modus) Kompatibilität mit Glovebox
Tapping-Modus mit digitaler Q-Regelung
Vektor-PFM

Anwendung

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