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Anwendungsbereiche:

Vero – interferometrisches AFM

Vero von Asylum Research ist eine Familie von Rasterkraftmikroskopen mit der einzigartigen, patentierten QPDI-Technologie (Quadratur-Phasen-Differential-Interferometrie), die eine kompromisslose Kombination aus hoher Auflösung bei hoher Messgeschwindigkeit mit einer umfassenden Palette an Messmodi bietet.

Typische Anwendungsbereiche

  • Halbleiter, Piezoelektrika
  • Nanomechanische Prüfungen
  • 2D-Materialien

Schlüsselmerkmale

  • Misst die tatsächliche Position der Spitze – quantitative Daten
  • Hohe Stabilität, Wiederholgenauigkeit und Auflösung
  • Geringes Rauschen und Eliminierung von Übersprechen
  • Geschwindigkeit & Genauigkeit
  • Flexibilität – breites Spektrum an Modi bereits in der Grundkonfiguration
  • Einfache Bedienung und Automatisierung
Richard Schuster
Fachberater

Ing. Richard Schuster

+420 601 123 593

schuster@optixs.cz

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Parameter

Die Vero-AFM-Mikroskopfamilie umfasst:

  • dem Basismodell Vero S – sehr hohe Auflösung mit schneller Abtastung und einer breiten Auswahl an Betriebsmodi
  • Umgebungs-AFM Vero ES – die gesamte Leistung und alle Funktionen des Modells Vero S sowie zusätzlich eine breite Palette an außergewöhnlichem Zubehör zur Umgebungskontrolle mit hermetisch abgeschlossener Probenkammer

Neben den Standard-AFM-Modi (Tapping, Kontaktmodus, Phasenabbildung) stehen auch kombinierte Messmodi zur Verfügung:

  • elektrische (PFM, cAFM, KPFM, EFM, …) und magnetische (MFM)
  • thermische (SThM)
  • sowie mechanischer Eigenschaften (Kraftkurven, Kraftkartierung, FFM, viskoelastische Kontakt-Resonanz-Kartierung, AM-FM, ...),
  • darüber hinaus beispielsweise Nanomanipulation und Nanolithografie sowie weitere Möglichkeiten.

Zubehör

Standard-Messmodi: Wählbare Messmodi:
Kontaktmodus (DC) AM-FM-Viskoelastik-Mapping-Modus
DART-PFM Kontakt-Resonanz-Viskoelastik-Mapping-Modus
Dual AC, Dual AC Resonance Tracking (DART) Konduktives AFM (cAFM) mit ORCA™- und Eclipse™-Modus
Elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM) Stromabtastung mit Fast Force Mapping
Kraftkurven Elektrochemische Dehnungsmikroskopie (ESM)
Kraftkartierungsmodus (Kraftvolumen) Fast-Force-Mapping-Modus
Kraftmodulation Hochspannungs-PFM
Frequenzmodulation Nanoskaliger zeitabhängiger dielektrischer Durchschlag (nanoTDDB)
Kelvin-Sonden-Kraftmikroskopie (KPFM) Scanning-Mikrowellen-Impedanzmikroskopie (sMIM)
Lateral-Force-Modus (LFM) Rastertunnelmikroskopie (STM)
Loss-Tangent-Bildgebung
Magnetkraftmikroskopie (MFM) **************************
Nanolithografie
Nanomanipulation blueDrive – photothermische Anregung
Phasenabbildung Elektrochemische Zelle (EC-AFM)
Piezoresponse-Kraftmikroskopie (PFM) Temperatur- und Feuchtigkeitsregelung
Schaltspektroskopie-PFM Perfusionszelle
Tapping-Modus (AC-Modus) Kompatibilität mit Gloveboxen
Tapping-Modus mit digitaler Q-Regelung
Vektor-PFM

Dokumente

Technischer Hinweis – QPDI-Technologie

Antrag auf Abruf eines Dokuments

Datenblatt – VERO

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