Aplikační oblasti:

Vero - interferometric AFM

Vero from Asylum Research is a family of atomic force microscopes with unique, patented QPDI (Quadrature Phase Differential Interferometry) technology offering an uncompromising combination of high resolution at high measurement speeds with a complete range of measurement modes.

Typical application areas

  • Semiconductors, Piezoelectrics
  • Nanomechanical testing
  • 2D materials

Key Features

  • Measures actual tip position - quantitative data
  • High stability, repeatability and resolution
  • Low noise and crosstalk elimination
  • Speed & accuracy
  • Flexibility - wide range of modes already in the basic configuration
  • Ease of operation and automation
Richard Schuster
Odborný poradce

Ing. Richard Schuster

+420 601 123 593

schuster@optixs.cz

Zaslat poptávku

OptiXs care

  • Odborně zkonzultujeme vaši plánovanou aplikaci
  • Náš tým je schopen produkt integrovat i do většího systému
  • Zajistíme rychlé dodání náhradních dílů a lokální servis
S čím dalším můžeme pomoci

Video

Parametry

Rodina AFM mikroskopů Vero sestává ze:

  • základního modelu Vero S - velmi vysoké rozlišení s rychlým skenováním a širokou nabídkou režimů
  • environmentálního AFM Vero ES veškerý výkon a funkce modelu Vero S a navíc široká škála výjimečného příslušenství pro kontrolu prostředí s hermeticky uzavřenou vzorkovou komorou

Kromě standardních AFM módů (tapping, kontaktní režim, fázové zobrazování) je v nabídce i kombinované režimy pro měření:

  • elektrických (PFM, cAFM, KPFM, EFM, ..) a magnetických (MFM)
  • termálních (SThM)
  • a mechanických vlastností (Force curves, Force mapping, FFM, contact resonance viscoelastic mapping, AM-FM, ...),
  • dále například nanomanipulace a nanolitografie a další možností.

Příslušenství

Standardní měřicí režimy: Volitelné měřicí režimy:
Contact mode (DC) AM-FM Viscoelastic Mapping Mode
DART PFM Contact Resonance Viscoelastic Mapping Mode
Dual AC, Dual AC Resonance Tracking (DART) Conductive AFM (cAFM) with ORCA™ and Eclipse™ Mode
Electrostatic Force Microscopy (EFM) Current mapping with Fast Force Mapping
Force curves Electrochemical Strain Microscopy (ESM)
Force Mapping Mode (force volume) Fast Force Mapping Mode
Force modulation High voltage PFM
Frequency modulation Nanoscale Time Dependent Dielectric Breakdown (nanoTDDB)
Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) Scanning Microwave Impedance Microscopy (sMIM)
Lateral Force Mode (LFM) Scanning Tunneling Microscopy (STM)
Loss tangent imaging
Magnetic Force Microscopy (MFM) **************************
Nanolithography
Nanomanipulation blueDrive - photothermal excitation
Phase imaging Electrochemical cell (EC-AFM)
Piezoresponse Force Microscopy (PFM) Temperature and humidity control
Switching spectroscopy PFM Perfusion cell
Tapping mode (AC mode) Glove box compatibility
Tapping mode with digital Q control
Vector PFM

Dokumenty

Technická poznámka - QPDI technologie

Datový List - VERO

Novinky

Zobrazit vše

Aplikace

Poptat produkt

Máte zájem o produkt? Zašlete nám své požadavky skrze poptávkový formulář nebo využijte přímý kontakt na odborného poradce. Rádi zodpovíme vaše dotazy a navrhneme řešení dle vašich potřeb.

Odborný poradce

Richard Schuster

Ing. Richard Schuster