Manufacturers
The content of this category is unfortunately not translated into English. In case that you are interested in finding out more about our manufacturers, you can use the links bellow leading to the Czech version of the web.
- Pevnolátkové, plynové, vláknové lasery
- Femtosekundové a excimerové lasery
- Laserové řezání, kalení, mikroobrábění
- Světelné zdroje, monochromátory
- Magnetometry, kryostaty
- Systémy pro nanotechnologie
- Optické stoly
- Antivibrační podlážky
- Zvukové a elektromagnetické stínění
- Optika a optomechanika
- Optická vlákna a příslušenství
- Modulární systémy pro mikroskopii
- 3D optické profiloměry
- Laserové Fizeau interferometry
- Referenční optické prvky pro měření optiky
- Superkontinuální bílé lasery
- Jednofrekvenční vláknové lasery
- Fotonická krystalická vlákna
- Modulární vláknové spektrometry
- Systémy pro Ramanovu spektroskopii
- Světelné zdroje a příslušenství
- Systémy pro měření proudění tekutin
- Systémy pro drátkovou anemometrii
- Aerodynamické a hydrodynamické aplikace
- Modulární fluorescenční spektrometry
- Systémy pro měření přechodné absorpce
- Spektrometry pro časově rozlišená měření
- Mikropolohovací systémy s krokovými motory
- Piezo nanopolohovací systémy a aktuátory
- Magnetické přímé pohony
- Fotonásobiče a fotonky, fotodiody
- Rozmítací (streak) kamery
- Spektrometry pro měření kvantového výtěžku
- Flowboxy
- Řešení pro čisté prostory
- Automatické injekční stříkačky
- Ochranné brýle pro práci s lasery
- Ochranná okénka pro práci s laserem
- Software pro stitching a 3D vizualizace
- Software pro analýzu obrazových dat
- Software pro dekonvoluci
- Kontinuální HeNe a ArIon lasery
- Diodové a DPSS lasery
- Mikroskopie, holografie, polygrafie
- Pump-probe spektrometry
- Fluorescenční spektrometry
- Generátory druhé a třetí harmonické frekvence
- Vlnové analyzátory na bázi Schack-Hartmannova senzoru
- Metrologický software
- Deformovatelná zrcadla
- Laserové interferometry
- Laserové Vibrometry
- Stabilizované HeNe lasery
- Precizní odměřování
- Teplotní kontroléry, monitory a senzory
- Měření magnetického pole
- Kryogenní testovací stanice, VSM magnetometry a měření Hallova jevu
- Optické kryostaty
- Fotoluminescence
- Transmisní spektroskopie
- optické litografy
- magnetometry
- spintronika, mikroelektronika, materiálové vědy
- analyzátory velikosti částic
- měření velikosti částic pigmentů, proteinů a TiO2
- analýza nanočástic
- spektroskopické elipsometry
- elipsometrie, měření vlastností tenkých vrstev
- nanoindentory
- únavové testy, měření ve vysokých teplotách
- testy poškrábání a opotřebení materiálu
- Sondy pro měření klíčových fyzikálních parametrů objemového plazmatu.
- Sondy pro měření procesu na povrchu substrátu.
- Sondy pro detekci RF frekvence, měření pracovního cyklu v reálném čase i RF pulsní monitorování.
- Měření parametrů optických prvků a optických sestav
- Systémy pro justáž optických sestav
- Měření kvality obrazu (MTF)
- SWIR kamery, Kamery pro viditelné spektrum
- Astronomie, Přírodní a fyzikální vědy, Bezpečnost a dohled