Surface and thin layer measurement
Subcategories and products for this section can be found below in Czech. If you need further information in English, don't hesitate to contact our product specialists.
Surface and thin layer measurement
- Optical profilometers
- Fizeau interferometers
- Spectroscopic elipsometers
- Nanoindenter
- Mikrolitografy (Photo lithography systems)
- Particle size analysers
- Spin coaters for thin spin application
Subcategories and products for this section can be found below in Czech. If you need further information in English, don't hesitate to contact our product specialists.
![Jupiter XR AFM pro velké vzorky](/obrazky/web/5150vero_uv.jpg)
Vero
Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření
See product site in Czech![Diferenční laserový interferometr SP 5000 DI](/obrazky/web/2097diferencialni-laserovy-interferometr-sp-di_uv.jpg)
Diferenciální laserový interferometr SP-DI
Série SP-DI představuje systém pro diferenční měření délky a úhlu s nejvyšší přesností.
See product site in Czech![Dvoupaprskový interferometr](/obrazky/web/4597dvoupaprskovy-laserovy-interferometr-sp-ds_uv.jpg)
Dvoupaprskový interferometr
Dva paralelní měřící paprsky jsou využívány pro získání dvou na sobě nezávislých údajů o délce.
See product site in Czech![Trojpaprskový interferometr](/obrazky/web/2113trojsvazkovy-interferometr-sp-tr_uv.jpg)
Trojpaprskový laserový interferometr
Interferometr složený ze tří laserů v jednom je schopný simultánně určit 3 na sobě nezávislé hodnoty a tak umožňuje změřit pozici a dva úhly diferenčních hodnot ve stejný moment.
See product site in Czech![Kalibrační interferometr pro velké vzdálenosti](/obrazky/web/2104schema-merici-sestavy-pro-urceni-5-stupnu-volnosti_uv.jpg)
Kalibrační interferometr SP 15000 C
Laserový trojpaprskový interferometr ideální pro kalibraci os u strojů a pro koordinaci měřících přístrojů.
See product site in Czech![Laserový vibrometr](/obrazky/web/2072laserovy-vibrometr-lsv-ng_uv.jpg)
Laserový vibrometr
Přístroje pro měření vibrací od německého výrobce SIOS Maßtechnik využívají jako základní funkční prvek technologii laserové interferometrie, která je doplněna dalším optickým vybavením.
See product site in Czech![Měřidlo s dotykovou sondou](/obrazky/web/2116dvousondova-konfigurace-pro-mereni-tloustky-materialu_uv.jpg)
Měřidlo s dotykovou sondou
Kontaktní sonda s precizním, interferometrickým odměřováním polohy pro určování tloušťky materiálu.
See product site in Czech![Jupiter XR AFM pro velké vzorky](/obrazky/web/2181large-sample-afm-mikroskop-jupiter-xr_uv.jpg)
Jupiter XR
Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření
See product site in Czech![Jupiter XR AFM pro velké vzorky](/obrazky/web/2409afm-cypher-vrs_uv.jpg)
Cypher Family
Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření
See product site in Czech![Qualifire](/obrazky/web/5236qualifire---pokrocily-interferometr-od-zygo_uv.jpg)
Qualifire
See product site in Czech![Jupiter XR AFM pro velké vzorky](/obrazky/web/3739mfp-3d-bio_uv.jpg)
MFP-3D family
Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření
See product site in Czech![Compass 2 - topografie (nejen) mikročoček](/obrazky/web/3796compass-2-od-zygo_uv.jpg)
Compass 2
Compass 2 pro komplexní, plně automatizovanou metrologii povrchu čoček a mikro-čoček.
See product site in Czech![Nanopolohovací platforma NPP-1](/obrazky/web/3814platforma-npp-1-od-sios-messtechnik_uv.jpg)
Nanopolohovací platforma NPP-1
Planární laserová interferometrická měřicí a polohovací platforma pro AFM
See product site in Czech![Compass 2 - topografie (nejen) mikročoček](/obrazky/web/3905verifire-mst-plus_uv.jpg)
Verifire MST+
Compass 2 pro komplexní, plně automatizovanou metrologii povrchu čoček a mikro-čoček.
See product site in Czech![Jednopaprskový laserový interferometr](/obrazky/web/2112odmerovaci-interferometr-nove-generace-sp-ng_uv.jpg)
Jednopaprskový laserový interferometr
Jednopaprskový, vysoce přesný interferometr s rovinným zrcadlem, kulovým nebo dutým reflektorem ze série SP NG zajišťujíe nejlepší linearitu a možnost měření skrze malá okna
See product site in Czech![VASE Elipsometr](/obrazky/web/3678vase_uv.jpg)
VASE Elipsometr
VASE je přesný a univerzální elipsometr od amerického výrobce J. A. Woollam pro výzkum všech typů materiálu.
See product site in Czech![AFSEM](/obrazky/web/3740afsem-nano_uv.jpg)
AFSEM pro korelativní mikroskopii
AFSEM mikroskop pro korelativní měření AFM / SEM
See product site in Czech![Spektroskopický elipsometr M-2000](/obrazky/web/1429spektroskopicky-elipsometr-m2000-ve-variante-s-automatizovanym-nastavenim-uhlu_uv.jpg)
M2000
Modulární spektroskopické elipsometry s unikátní kombinací rychlosti a přesnosti měření
See product site in Czech![MicroWriter ML3](/obrazky/web/3294opticky-litograf-microwriter-ml3-pro_uv.jpg)
MicroWriter ML3
Optický litograf s přímým vysokorychlostním zápisem a vysokým rozlišením
See product site in Czech![Spektroskopický elipsometr RC2](/obrazky/web/1420sestava-rc2-elipsometru_uv.jpg)
Spektroskopický elipsometr RC2
Řada modulárních vysoce přesných spektroskopických elipsometrů
See product site in Czech![Verifire](/obrazky/web/2165verifire-vts_uv.jpg)
Verifire
Laserový Fizeau interferometr pro běžné měření tvaru optických prvků a reflexních povrchů
See product site in Czech![ZeGage](/obrazky/web/1794zegage-pro-se-dvema-objektivy-v-manualnim-karuselu-a-motorizovanymi-xyz-posuvy_uv.jpg)
![Zygo objektivy](/obrazky/web/544zygo-objektivy-k-optickym-profilomerum_uv.jpg)
![NewView 9000](/obrazky/web/1562nv9k_uv.jpg)
![In situ elipsometr iSE](/obrazky/web/1419sestava-ise-elipsometru-pro-in-situ-charakterizaci_uv.jpg)
In situ elipsometr iSE
Nejvyšší řada modulárních spektroskopických elipsometrů se dvěma rotujícími kompenzátory
See product site in Czech![Spektroskopický elipsometr alpha-SE](/obrazky/web/4965novy-elipsometr-alpha-20_uv.jpg)
Spektroskopický elipsometr alpha-SE
Špičkový spektroskopický elipsometr dedikovaný pro in-situ měření
See product site in Czech![Compass 2 - topografie (nejen) mikročoček](/obrazky/web/3821vfa--od-zygo_uv.jpg)
Verifire Asphere+
Compass 2 pro komplexní, plně automatizovanou metrologii povrchu čoček a mikro-čoček.
See product site in Czech![NexView NX2](/obrazky/web/3809opticky-profilomer-zygo-nexview-nx2_uv.jpg)
![Spektroskopický elipsometr RC2](/obrazky/web/3336rc2-xf---focused_uv.jpg)
Spektroskopický elipsometr RC2
Řada modulárních vysoce přesných spektroskopických elipsometrů
See product site in Czech![Mapovací spektroskopický elipsometr Theta-SE](/obrazky/web/1838rychly-mapovaci-spektroskopicky-elipsometr-theta-se_uv.jpg)
Mapovací elipsometr Theta-SE
Rychlý spektroskopický elipsometr pro přesné mapování a charakterizaci vrstev
See product site in Czech![Aleš Jandík](/obrazky/web/ales-jandik.png)