Modulární mikroskopické systémy dnes umožňují kombinaci více moderních analytických technik v jednom systému současně. Příkladem je kombinace AFM, konfokálního Ramanova zobrazování a SNOM. Mikroskopie atomárních sil poskytuje topografické informace o zkoumaných vzorcích např. minerálech, polymerních směsích, kompozitních materiálech nebo biologických tkáních. Konfokální Ramanovo zobrazování umožňuje identifikaci chemického složení látek a skenovací optická mikroskopie blízkého pole (SNOM) je vhodná pro optické zobrazování vzorků s rozlišením za difrakčním limitem. Základem těchto metod s extrémně vysokým rozlišením je vždy vysoce přesné polohování zkoumaných vzorků ve všech třech osách (požadovaná přesnost méně než 1nm). Kombinací těchto tří metod a díky paralelně kinematickému piezo stolku od Physik Instrumente s rychlou dobou odezvy a vysokou přesností získáme tzv. korelační mikroskopii.

P-517/P-527 – Víceosý piezoskener

• Rozsah polohování až 200 µm
• K dispozici jsou XY a XYθ_Z  verze
• Bezkontaktní kapacitní čidla umožňují přímé měření se subnanometrickým rozlišením a garantují výbornou linearitu pohybu a dlouhodobou stabilitu polohy
• Díky piezo vedení (flexure guide) nevyžaduje piezoskener žádnou údržbu, mazání, je bez tření a s minimálním opotřebením
• Tuhá konstrukce zajišťuje vysokou nosnost (až 5 kg), je necitlivá na otřesy a vibrace
• Kompatibilita s vakuem, práce v širokém teplotním rozsahu (-20°C až +80°C)