Optische Profilometer des führenden Herstellers Zygo der Serie NewView 9000 sind leistungsstarke Interferometriesysteme der neuen Generation mit der patentierten Technologie Zygo Coherence Scanning Interferometry (Zygo CSI). Zygo CSI kombiniert die Vorteile des herkömmlichen CSI-Modus (auch bekannt als „White Light Vertical Scanning Interferometry“) mit der Phasenverschiebungsmessung (PSI – Phase Shifting Interferometry), und ermöglicht so extrem genaue und schnelle Messungen einer breiten Palette von Oberflächen – von superglatten bis zu sehr rauen, von polierten Spiegeloberflächen über transparente Materialien (Glas und Kunststoffe) bis hin zu mattschwarzen Eishockey-Pucks.
Dank der Kombination dieser Methoden ist es möglich, Messungen an transparenten sowie undurchsichtigen Materialien wie Metallen, Glas, Polymeren, Keramik, aber auch organischen Materialien durchzuführen. So lassen sich beispielsweise transparente Mehrschichtstrukturen, raue sowie hochglanzpolierte, reflektierende Metallschichten und vieles mehr messen, ohne dass ein Messmodus ausgewählt werden muss.
Wichtige Merkmale
- Smart-Setup-Funktion für Einrichtung und Messung per Knopfdruck
- Berührungslose Oberflächenmesstechnik ohne Vorbehandlung des Messobjekts
- Modulares Design
- Hohe Messgeschwindigkeit (bis zu 171 µm/s)
- Genauigkeit im Sub-Nanometer-Bereich
- Große Auswahl an Objektiven
- Crash-Protection-Funktion zum Schutz des Objektivs vor Stößen
- Interaktive 3D-Oberflächenkarten
- Flexible messtechnische Analyse
- Umfassende Software zur Visualisierung und Analyse von Daten Zygo Mx
