SIM

SIM (Structured Illumination Microscopy), neboli mikroskopie se strukturovaným osvětlením, je jedna z druhů super-rezoluční mikroskopie, jejíž princip je analogický se zobrazováním moaré obrazců vznikajících překrytím dvou odlišných rastrů (mřížek). SIM využívá k osvětlení vzorku světelného paprsku s pruhovaným vzorem, který vzniká difrakcí na mřížce. Snižováním rozlišovací schopnosti optické soustavy dochází k tomu, že samotné rastry již nelze zobrazit, ale moaré efekt zůstává viditelný. Díky tomuto efektu jsou v obraze zachovány informace o existenci rastrů s prostorovými frekvencemi vyššími, než dokáže optická soustava přímo zobrazit. Počítačovým zpracováním moaré efektu (pomocí Fourierovy transformace) pak lze spočítat, jak vypadaly struktury, které tento efekt způsobily, což vede k zisku obrázku s daleko jemnějšími detaily a s rozlišením okolo 100 nm. Super-rezoluční snímek je tedy vytvořen na základě procesu obnovení obrazu, který využívá celou řadu snímků zachycených v různých fázích a pohybujících se ve směru pruhovaného vzoru.

SIM metodu lze aplikovat jak na 2D objekty (monovrstvy, obrazy buněk z TIRF mikroskopu aj.), tak na 3D objekty – díky snímání série obrazů zaostřených do různé hloubky vzorku, který je osvětlený trojrozměrným rastrem.