Vero

Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření

Diferenciální laserový interferometr SP-DI

Série SP-DI představuje systém pro diferenční měření délky a úhlu s nejvyšší přesností.

Dvoupaprskový interferometr

Dva paralelní měřící paprsky jsou využívány pro získání dvou na sobě nezávislých údajů o délce.

Trojpaprskový laserový interferometr

Interferometr složený ze tří laserů v jednom je schopný simultánně určit 3 na sobě nezávislé hodnoty a tak umožňuje změřit pozici a dva úhly diferenčních hodnot ve stejný moment.

Kalibrační interferometr SP 15000 C

Laserový trojpaprskový interferometr ideální pro kalibraci os u strojů a pro koordinaci měřících přístrojů.

Laserový vibrometr

Přístroje pro měření vibrací od německého výrobce SIOS Maßtechnik využívají jako základní funkční prvek technologii laserové interferometrie, která je doplněna dalším optickým vybavením.

Měřidlo s dotykovou sondou

Kontaktní sonda s precizním, interferometrickým odměřováním polohy pro určování tloušťky materiálu.

Jupiter XR

Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření

Cypher Family

Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření

Qualifire

MFP-3D family

Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření

Compass 2

Compass 2 pro komplexní, plně automatizovanou metrologii povrchu čoček a mikro-čoček.

Nanopolohovací platforma NPP-1

Planární laserová interferometrická měřicí a polohovací platforma pro AFM

Verifire MST+

Compass 2 pro komplexní, plně automatizovanou metrologii povrchu čoček a mikro-čoček.

Jednopaprskový laserový interferometr

Jednopaprskový, vysoce přesný interferometr s rovinným zrcadlem, kulovým nebo dutým reflektorem ze série SP NG zajišťujíe nejlepší linearitu a možnost měření skrze malá okna

VASE Elipsometr

VASE je přesný a univerzální elipsometr od amerického výrobce J. A. Woollam pro výzkum všech typů materiálu.

AFSEM pro korelativní mikroskopii

AFSEM mikroskop pro korelativní měření AFM / SEM

M2000

Modulární spektroskopické elipsometry s unikátní kombinací rychlosti a přesnosti měření

MicroWriter ML3

Optický litograf s přímým vysokorychlostním zápisem a vysokým rozlišením

Spektroskopický elipsometr RC2

Řada modulárních vysoce přesných spektroskopických elipsometrů

Verifire

Laserový Fizeau interferometr pro běžné měření tvaru optických prvků a reflexních povrchů

ZeGage

Robustní 3D optický profiloměr s opakovatelností až 0,01 nm

Zygo objektivy

Speciální objektivy Zygo pro optické profiloměry

NewView 9000

3D optický profiloměr s opakovatelností až 0,01 nm

In situ elipsometr iSE

Nejvyšší řada modulárních spektroskopických elipsometrů se dvěma rotujícími kompenzátory

Spektroskopický elipsometr alpha-SE

Špičkový spektroskopický elipsometr dedikovaný pro in-situ měření

Verifire Asphere+

Compass 2 pro komplexní, plně automatizovanou metrologii povrchu čoček a mikro-čoček.

NexView NX2

Špičkový 3D optický profiloměr s opakovatelností až 0,005 nm

Spektroskopický elipsometr RC2

Řada modulárních vysoce přesných spektroskopických elipsometrů

Mapovací elipsometr Theta-SE

Rychlý spektroskopický elipsometr pro přesné mapování a charakterizaci vrstev