K používání a měření webu využíváme cookies. Používáním tohoto webu souhlasíte se způsobem, jakým s cookies nakládáme. Další informace

Webinář: Metrologie v nanoměřítku

23. 09. 2021 Webináře
Webinář: Metrologie v nanoměřítku

Zveme Vás na další z webinářů pořádaných SIOS Messtechnik, ve kterém se dozvíte více o vysoce přesné metrologii založené na laserové interferometrii. Webinář se uskuteční 30. září, a to hned ve dvou časech: od 8:3015:30

Technologické inovace posledních let zpravidla kopírují jedno a totéž schéma: produkty se stávají komplexnějšími a výkonnějšími, nároky na kvalitu provedení se zpřísňují, zatímco velikost systému ubírá na rozměrech. Poptávka je po vysoce výkonných, kvalitních a kompaktních zařízeních.

S rostoucím zájmem o mikro- a nanotechnologie v průmyslových odvětvích přicházejí i vysoké nároky na měřící přístroje, které jsou využívány při výrobě, testování i polohování. Metrologie v nanoměřítku si tak za poslední roky našla svou cestu do široké škály oblastí – od polovodičového průmyslu a nanoelektroniky přes mikrooptiku, genetické inženýrství, molekulární biologii až po materiálový výzkum.

V rámci webináře Vás odborníci Dr. Denis Dontsov a Enrico Langlotz během 45 min provedou následujícími tematickými okruhy:

  • Vysoce stabilní laserové interferometry s vysokým rozlišením 

  • Základy nano-polohování 

  • Aplikace přístrojů pro polohování a měření v nanoměřítku

Zároveň získáte komplexní návod k tomu, jak správně používat systémy od SIOS ve svých aplikacích. Sios také představí svůj multisenzorový systém NMM pro komplexní 3D metrologii v nanoměřítku.

Po prezentaci nebude chybět ani prostor pro diskusi, v rámci které Vám specialisté rádi zodpoví všechny Vaše dotazy.

Více informací o události včetně registračních formulářů naleznete ZDE nebo se můžete přímo přihlásit přes odkazy níže:

  • Webinář od 8:30: ZDE

  • Webinář od 15:30: ZDE

Těšíme se na Vás!

 

Diferenční laserový interferometr SP-DI

Diferenční laserový interferometr SP-DI

Série SP-DI představuje systém pro diferenční měření délky a úhlu s nejvyšší přesností.