Mikroskopie atomárních sil (AFM) slouží ke 3D zobrazování povrchu ve vysokém rozlišení. Metoda má širokou škálu uplatnění, jelikož lze použít pro vodivé i nevodivé, krystalické i amorfní, anorganické i organické vzorky. Díky novým přístupům lze kromě samotné topografie povrchu zkoumat též mechanické vlastnosti (nanoindentace, nanomanipulace, nanolitografie, mapování laterálních sil, ...), elektromagnetické vlastnosti (mapování proudů a vodivosti, STM, mikrovlnná impedanční mikroskopie, ...) a mnoho dalších.

Relativně novou záležitostí ve světě AFM mikroskopie je možnost korelativního měření integrací AFM modulu dovnitř například skenovacího elektronového mikroskopu (SEM). Zmíněný AFM / AFSEM modul lze však kromě integrace do stávajícího systému používat také samostatně, jako kompaktní AFM pro obtížně přístupné povrchy (například ostří holítka nebo naopak povrch velkoplošných vzorků). 

Pro bioaplikace máme v nabídce také AFM vhodné pro měření měkkých vzorků i v kapalném prostředí. Bio-AFM lze samozřejmě osadit na invertovaný optický mikroskop pro kombinovanou mikroskopii.

Kromě kompletních AFM systémů nabízíme také extrémně stabilní a přesné nanopolohovací platformy pro osazení senzoru: NPP-1.