AFSEM pro korelativní mikroskopii
| VÝROBCE: |
|
Quantum Design Europe | KATEGORIE: |
AFSEM™ od GETec umožňuje rozšíření možností vašeho skenovacího elektronového mikroskopu (SEM) o unikátní vlastnosti mikroskopie atomárních sil (AFM) s možností korelativní analýzy dat.
AFSEM™ je kompatibilní s většinou dostupných SEM a FIB/SEM systémů na trhu a je může tak snadno rozšířit schopnosti i Vašeho systému o mikroskopii atomárních sil. Díky unikátnímu designu nedochází k nežádoucímu rušení ostatních měřicích metod systému (např. FIB, FEBID, EDX), naopak systém s tímto rozšířením dokáže mimo jiné získat informaci o 3D struktuře vzorku.
Vlastnosti:
- Rozměry AFSEM™ skeneru: 41 x 110 x 77 mm³ (VxŠxH)
- Hmotnost AFSEM™ skeneru: 500 g
- Skenovací rozsah: 35 x 35 µm² pro x,y (uzavřená smyčka); 5 µm pro osu z
- Vakuová kompatibilita: do 10-7 mbar
- Různé měřicí módy
Máte zájem o AFSEM pro korelativní mikroskopii
Potřebujete radu?
Související články
Optická charakterizace nanostruktur
Pozvánka na seminář: Aplikovaná optika, mikroskopie a obrazové technologie 2022Související produkty
-
Optický profilometr NexView NX2
-
Optický profiloměr NewView 9000
-
Konfokální mikroskop Dragonfly 200
-
Cypher - Ultravýkonné AFM
-
MFP-3D - AFM mikroskopy (nejen) pro bioaplikace
-
Nanopolohovací platforma NPP-1
-
Kompaktní konfokální mikroskop Andor BC43 CF
-
Vero - interferometrické AFM
-
Kompaktní fluorescenční mikroskop Andor BC43 WF
Máte zájem o AFSEM pro korelativní mikroskopii? Potřebujete radu?
Pomůže Vám specialista sekce Richard Schuster, případně využijte naše další kontakty.