- Optixs
- Produkty
- Měření povrchů a vrstev
- AFM mikroskopy
- Cypher Family
Cypher - Ultravýkonné AFM
Cypher od Asylum Research je rodina mikroskopů atomárních sil nabízející nekompromisní kombinaci vysokého rozlišení při vysoké rychlosti měření s kompletní škálou měřicích módů.
Kromě typických AFM módů je v nabídce i kombinované režimy pro měření termálních, elektrických, magnetických a mechanických vlastností, dále například nanomanipilace a nanolitografie a mnoho dalších možností.
Aplikace
Typické aplikační oblasti:
- Polovodiče
- Mikroelektronika
- Fotovoltaika a úložiště energie
- Tribologie & korozivní procesy
- Polymery
- 2D materiály
Hlavní přednosti
- Stabilita & rozlišení
- Rychlost & přesnost
- Flexibilita - široká nabídka módů už v základní konfiguraci
- Snadná obsluha a automatizace
Máte zájem o Cypher - Ultravýkonné AFM
Potřebujete radu?
Parametry
Rodina AFM mikroskopů Cypher sestává ze:
- startovacího modelu Cypher L - cenově výhodný, plně upgradovatelný; trvale překonává ostatní AFM ve své cenové kategorii
- základního modelu Cypher S - velmi vysoké rozlišení s rychlým skenováním a celou řadou režimů
- environmentálního AFM Cypher ES - veškerý výkon a funkce modelu Cypher S a navíc široká škála výjimečného příslušenství pro kontrolu prostředí s hermeticky uzavřenou vzorkovou komorou
- modelu dedikovaného pro výzkum polymerů: Cypher ES Polymer Edition - Cypher ES předkonfigurovaný se vším pro studium polymerů
- nejrychlejšího modelu se schopností zobrazování ve video-módu: Cypher VRS-1250 - první plně vybavený AFM s videozáznamem, neuvěřitelná rychlost spolu se všemi funkcemi a módy přístroje Cypher ES
PŘÍSLUŠENSTVÍ
Standardní měřicí režimy: | Volitelné měřicí režimy: |
Contact mode (DC) | AM-FM Viscoelastic Mapping Mode |
DART PFM | Contact Resonance Viscoelastic Mapping Mode |
Dual AC, Dual AC Resonance Tracking (DART) | Conductive AFM (cAFM) with ORCA™ and Eclipse™ Mode |
Electrostatic Force Microscopy (EFM) | Current mapping with Fast Force Mapping |
Force curves | Electrochemical Strain Microscopy (ESM) |
Force Mapping Mode (force volume) | Fast Force Mapping Mode |
Force modulation | High voltage PFM |
Frequency modulation | Nanoscale Time Dependent Dielectric Breakdown (nanoTDDB) |
Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) | Scanning Microwave Impedance Microscopy (sMIM) |
Lateral Force Mode (LFM) | Scanning Tunneling Microscopy (STM) |
Loss tangent imaging | |
Magnetic Force Microscopy (MFM) | _____________________________________ |
Nanolithography | blueDrive - photothermal excitation |
Nanomanipulation | Video-rate imaging |
Phase imaging | Electrochemical cell (EC-AFM) |
Piezoresponse Force Microscopy (PFM) | Temperature and humidity control |
Switching spectroscopy PFM | Perfusion cell |
Tapping mode (AC mode) | Glove box compatibility |
Tapping mode with digital Q control | |
Vector PFM | |
Související články
Související produkty
Máte zájem o Cypher - Ultravýkonné AFM? Potřebujete radu?
Pomůže Vám specialista sekce Richard Schuster, případně využijte naše další kontakty.