SIOS Messtechnik GmbH - Logo
SIOS Messtechnik GmbH

Nanopositioning platform NPP-1

The extremely stable NPP-1 planar positioning platform from Sios Messtechnik is primarily designed for mounting an AFM (or other type of sensor). It is a platform with a large range and precise interferometric position measurement. The platform can be fitted with virtually any type of sensor that requires stable, repeatable and accurate sample positioning.

Key features

  • 2.5-D positioning and measuring system with highest accuracy and stability
  • Measuring and positioning range: Ø 100 mm
  • Lateral measurement resolution ≤ 0.02 nm
  • Control: 3 differential laser interferometers
  • Metrological repeatability due to stabilized HeNe lasers
  • Open device architecture allows the use of customized sensors (typically AFM)
  • User interface: Sios Software/API interface

Typical applications

  • Nanopositioning, nanomanipulation, nanostructuring
  • Processing and measurement of microelectronic and micromechanical components
  • Measurement of optics, microsystem technology with nanometer precision over large spatial scales
  • continuous AFM scanning over large areas
Richard Schuster
Odborný poradce

Ing. Richard Schuster

+420 601 123 593

schuster@optixs.cz

Zaslat poptávku

OptiXs care

  • Odborně zkonzultujeme vaši plánovanou aplikaci
  • Náš tým je schopen produkt integrovat i do většího systému
  • Zajistíme rychlé dodání náhradních dílů a lokální servis
S čím dalším můžeme pomoci

Parametry

Platforma pro nano měření a polohování NPP-1 umožňuje polohování v rozsahu ~100 mm. Vysoké rozlišení laserových interferometrů používaných pro zpětnou vazbu polohování, rigidní architektura polohovacího uspořádání, osy polohovacího systému na vzduchových ložiscích a optimalizovaný řídicí systém umožňují odchylky polohy a věrnost dráhy pohybu < 2 nm RMS.

Měřený objekt je umístěn přímo na pohyblivém zrcadle. Poloha a natočení zrcadla jsou doměřovány interferometricky.

V tomto systému se používají ultra-stabilní interferometry řady SP-DI/F. Světlo stabilizovaného laseru je přenášeno optickými vlákny z elektronické jednotky do jednotlivých hlav interferometru. Výsledkem je kompaktní a teplotně stabilní konstrukce JE-1.

S užitečným zatížením až 5 kg lze pomocí této platformy s vysokou přesností polohovat i větší a těžší objekty.

Princip nanopolohovacího systému NPP-1 je navržen tak, aby byl škálovatelný, a proto lze systém na požádání přizpůsobit.

Dokumenty

Poptat produkt

Máte zájem o produkt? Zašlete nám své požadavky skrze poptávkový formulář nebo využijte přímý kontakt na odborného poradce. Rádi zodpovíme vaše dotazy a navrhneme řešení dle vašich potřeb.

Odborný poradce

Richard Schuster

Ing. Richard Schuster