Nanoindentor® G200X
Nanoindentor® G200X Nanoindentor® G200X
KLA Instruments - Logo
KLA Instruments

Nanoindentor® G200X

Nanoindentor® G200X je snadno použitelný tester mechanických vlastností v nanoměřítku, který rychle poskytuje přesné a kvantitativní výsledky. Umožňuje testování široké škály vzorků od tvrdých povlaků po měkké polymery a nabízí nejucelenější sadu testů v produktové linii nanoindentorů KLA Instruments.

Klíčové vlastnosti

  • Elektromagnetický aktuátor s vysokým dynamickým rozsahem síly a posuvu
  • Optický mikroskop s vysokým rozlišením a přesný XYZ pohybový systém
  • Snadno použitelný vzorkovací stůl s více pozicemi pro vysokou propustnost měření
  • Modulární možnosti testování: SPM zobrazování, scratch testy, vysokoteplotní měření, dynamické testy (CSM), vysokorychlostní testy
  • Intuitivní uživatelské rozhraní a rychlé nastavení testu
  • Reálný čas řízení experimentů, snadný vývoj protokolů a konfigurace testů
  • Software InView včetně ReviewData a InFocus pro analýzu dat a tvorbu reportů
  • Oceněné vysokorychlostní testování pro mapy vlastností materiálů
  • Elektronika InQuest s rychlostí sběru dat 100 kHz a časovou konstantou 20 µs
Richard Schuster
Odborný poradce

Ing. Richard Schuster

+420 601 123 593

schuster@optixs.cz

Zaslat poptávku

  • Odborně zkonzultujeme vaši plánovanou aplikaci
  • Náš tým je schopen produkt integrovat i do většího systému
  • Zajistíme rychlé dodání náhradních dílů a lokální servis
S čím dalším můžeme pomoci

Popis produktu

Nanoindentor® G200X je univerzální systém pro mechanické testování v nanorozměrech. Obsahuje vysoce výkonný pohybový systém, velký systém pro upevnění vzorků a optický mikroskop s vysokým rozlišením. Softwarová platforma InView, řídicí jednotka InQuest a aktuátory InForce zajišťují konzistentně vysokou kvalitu výsledků napříč produktovou řadou.

Volitelné možnosti zahrnují měření kontinuální tuhosti (CSM), rastrovací sondovou mikroskopii, scratch testy, frekvenční charakterizaci, elektrická měření, vysokorychlostní testování i testování při nárazu. Nový balíček G200X Semi Pack přináší pokročilá řešení pro charakterizaci vrstev v polovodičovém a sloučeninovém průmyslu.

Aplikace

  • Rychlé měření tvrdosti a modulu pružnosti (Oliver-Pharr)
  • Vysokorychlostní mapy vlastností materiálů
  • Stanovení mezní pevnosti (yield stress/strain)
  • Tvrdostní testy dle ISO 14577
  • Měření tenkých vrstev a povlaků
  • Měření adheze vrstev a delaminace
  • Měření lomové houževnatosti (stiffness mapping, CSM, NanoVision)
  • Viskoelastické vlastnosti (tan δ, skladovací a ztrátový modul)
  • Rastrovací sondová mikroskopie (3D imaging)
  • Kvantitativní scratch testy a testy opotřebení
  • Nanoindentace při zvýšených teplotách
  • Elektrická měření (I-V charakteristiky)

Odvětví

  • Polovodičový průmysl
  • Univerzity, výzkumné laboratoře a ústavy
  • PVD/CVD tvrdé povlaky (např. DLC, TiN)
  • MEMS – mikroelektromechanické systémy, univerzální testování v nanorozměru
  • Keramika a sklo
  • Kovy a slitiny
  • Biomateriály a farmaceutické materiály
  • Nátěry a laky
  • Kompozity
  • Baterie a systémy pro ukládání energie
  • Automobilový a letecký průmysl

Poptat produkt

Máte zájem o produkt? Zašlete nám své požadavky skrze poptávkový formulář nebo využijte přímý kontakt na odborného poradce. Rádi zodpovíme vaše dotazy a navrhneme řešení dle vašich potřeb.

Odborný poradce

Richard Schuster

Ing. Richard Schuster

tel: +420 601 123 593
mail: schuster@optixs.cz