Lasery a přístrojová technika

Optická charakterizace nanostruktur

Jako nanostruktury (kvantové tečky, nanokrystaly, nanovlákna, nanomembrány, nanotrubičky, …) jsou označovány objekty o rozměrech v rozmezí jednotek až desítek nanometrů. Vykazují unikátní fyzikální a chemické vlastnosti, které se v makrosvětě nepozorují. Nanotechnologie se považuje za jeden z hlavních zdrojů inovací v technice a zároveň za jednu z hlavních priorit ve vědě pro 21. století.

Máte zájem o tuto aplikaci? Potřebujete radu?
Kontaktujte nás

Optické metody charakterizace jsou techniky, které k získání informace o studovaném materiálu používají optické záření. Zahrnují například mikroskopii, elipsometrii, fotoluminiscenční spektroskopii či Ramanovu spektroskopii.

Stabilita světelného zdroje = klíčový faktor

Při charakterizaci velmi malých struktur je stabilita použitého světelného zdroje kritická. Superkontinuální lasery SuperK EXTREME společnosti NKT Photonics poskytují jedinečnou funkci Power Lock, která umožňuje kompenzovat drift a nestabilitu v nastavení zrcadel, čoček apod. Uživatelům laseru tak dokáže poskytnout stabilitu výkonu v rozmezí 0,2 - 0,5 %.

Výkonová stabilita superkontinuálního laseru s filtračním modulem Varia

Uvedený obrázek znázorňuje výstup z filtračního modulu VARIA bez a s použitím funkce Power Lock. Kromě skvělé stability výkonu se SuperK EXTREME může chlubit nejlepší směrovou stabilitou na trhu


Produkty pro Optická charakterizace nanostruktur

SuperK Compact

SuperK Compact

Nanosekundový superkontinuum laser o výkonu až 100mW

SuperK Extreme

SuperK Extreme

Pikosekundový superkontinuum laser s výstupem 400-2400nm a o výkonu až 8W

RM5 konfokální Ramanův mikroskop

RM5 konfokální Ramanův mikroskop

Kompaktní a plně automatizovaný konfokální Ramanův mikroskop pro analytické a výzkumné účely

FLS1000 luminiscenční spektrometr

FLS1000 luminiscenční spektrometr

Kompletní luminiscenční laboratoř v rámci jednoho přístroje

Spektroskopický elipsometr M-2000

Spektroskopický elipsometr M-2000

Modulární spektroskopické elipsometry s unikátní kombinací rychlosti a přesnosti měření

Spektroskopický elipsometr RC2

Spektroskopický elipsometr RC2

Nejvyšší řada modulárních spektroskopických elipsometrů se dvěma rotujícími kompenzátory

In situ elipsometr iSE

In situ elipsometr iSE

Špičkový spektroskopický elipsometr dedikovaný pro in-situ měření

Rutinní elipsometr alpha-SE

Rutinní elipsometr alpha-SE

Základní spektroskopický elipsometr s nastavitelnými úhly dopadu.

Mapovací elipsometr Theta-SE

Mapovací elipsometr Theta-SE

Rychlý spektroskopický elipsometr pro přesné mapování a charakterizaci vrstev

VASE Elipsometr

VASE Elipsometr

Nejpřesnější spektroskopický elipsometr se širokým spektrálním rozsahem a nastavitelným úhlem dopadu.

AFSEM - mikroskop pro snadnou integraci

AFSEM - mikroskop pro snadnou integraci

AFSEM mikroskop pro korelativní měření AFM / SEM

Jupiter XR - AFM pro velké vzorky

Jupiter XR - AFM pro velké vzorky

Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření

Cypher - Ultravýkonné AFM

Cypher - Ultravýkonné AFM

Cypher - rodina ultravýkonných AFM mikroskopů pro měření bez kompromisů.

Mapovací elipsometr RC2® XF s mikrofokusem

Mapovací elipsometr RC2® XF s mikrofokusem

Špičkový spektroskopický elipsometr s mikrofokusací. Měření na bázi dual RCE technologie a CCD detekce.

MFP-3D - AFM mikroskopy (nejen) pro bioaplikace

MFP-3D - AFM mikroskopy (nejen) pro bioaplikace

MFP-3D rodina výkonných AFM mikroskopů (nejen) pro bioaplikace a materiálový výzkum.

KONTAKTNÍ FORMULÁŘ

Informace o cookies na této stránce

Rádi bychom používali cookies. Umožní nám získat přehled o návštěvnosti webu, lépe cílit reklamu a vylepšovat naše služby.

Více informací

Nastavení cookies

Vaše soukromí je důležité. Používání souborů cookie si můžete vybrat, jak je popsáno níže. Vaše preference mohou být kdykoli změněny.